红外线测厚仪

RX-200



正反射P偏光型标准在线膜厚计!消除了引起误差的表面反射,可以正确进行测量。

RX-200

  • 测量方法:红外线反射吸收式
  • 分光方式:旋转过滤器方式(可以实际装载6张)
  • 测量距离:25mm(本体部下方面)
  • 测量面积:5×8mm(椭圆)
  • 尺寸・重量:230 (W)×134(D)×90(H),约4.5kg


特长

如果把红外线照射到被测物上,就会发生与膜厚相对应的特定波长的红外线吸收现象。从透过光或镜面金属板的正反射光来掌握吸收量,再按事先测得的吸光度与水分值的关系式,可以测量膜厚。

并且,采用本公司独自的P偏光入射方式。消除因表面反射或内部多重反射引起的误差,提供红外线测厚仪最理想的硬件。

  • 节省空间(在线)
    因为是小型传感器头,故不受放置空间约束。只需占用现有生产线上的狭小空间。
  • 瞬间测量
    无需任何前处理。且可实现非破坏、非接触的瞬间测量。
  • 广泛的适应性
    通过由最大6波长组成的滤光器,可以测量各种材质的膜厚及水分。
  • 出众的测量精度
    通过采用本公司独自的P偏光方式,即使是几μm以下的薄膜,也可得到稳定的测量结果。
  • 拥有值得信赖的长期稳定性
    根据周围环境和装置的变动,采用3波长测光方式确保长期性的精度。

用途例

  • LCD用光学薄膜测厚
  • 聚合电池的隔离板测厚
  • 彩色显像管荫罩的感光乳剂测厚
  • 铝箔上的乙烯涂层测厚
  • 防雾加工薄膜的防雾剂涂层测厚
  • 复合膜的粘合剂涂层测厚
  • 收缩标签的脱胶检查等
  • 钢板上的有机附着量测量

规格

项目 规格
测量方法 红外线反射吸收式
分光方式 旋转过滤器方式(可以实际安装6张)
测量距离 25mm(从本体部下面)
测量面积 5×8mm(椭圆)
尺寸、重量、电源 传感器头 230(W)×134(D)×90(H)、约4.5kg(不含突起部)
数据处理部 275(W)×300(D)×165(H)、约6.7kg(不含突起部)
中继单元部 250(W)×140(D)×113(H)、约3kg(不含突起部)
外部输出 从模拟0~10v 到4~20mA进行选择(出厂时设定)
环境温度 0~40℃(没有结露)
电源 AC100V±10% 50/60Hz